O conhecimento acerca da Metrologia Forense entre os profissionais de Perícia Oficial no Estado de Santa Catarina

Resumo

Metrologia forense é a utilização de conceitos e procedimentos de metrologia na solução de crimes. Seus estudos partiram da década de 1990 e demonstram importância técnica e jurídica crescente. Este trabalho foi desenvolvido para trazer à tona questionamentos a respeito da compreensão, abrangência e emprego dos termos utilizados na área de metrologia, por profissionais oficiais de perícia no Estado de Santa Catarina, com objetivo de rastrear o conhecimento básico dessa notável ciência entre tais profissionais. A metodologia empregada no presente trabalho se pautou no desenvolvimento e aplicação de um questionário, anônimo e voluntário, contendo perguntas objetivas sobre metrologia geral e forense. Como resultado, observou-se que é inegável a presença de considerável confusão na compreensão e aplicação de conceitos básicos. Mesmo assim, grande parte dos participantes tinham certo conhecimento sobre o conteúdo/teor dos termos apresentados. Conclui-se, ainda, pela existência de um campo fértil para maiores discussões sobre a premente necessidade da aplicação de metrologia nas ciências forenses.

Palavras-chave

Metrologia Forense
Medição
Confiabilidade
Incerteza de Medição

Referências

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Copyright (c) 2023 Revista Brasileira de Criminalística

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Autor(es)

  • Maryah Elisa Morastoni Haertel,
  • André Luiz de Melo,
  • Juliane Maria Bieda Nadolny,

    • Maryah Elisa Morastoni Haertel

    Universidade Federal de Santa Catarina

    https://orcid.org/0000-0001-5092-8630

    • Bacharela e licenciada em Física, Mestra em Metrologia Científica e Industrial, Doutora em Engenharia Mecânica, e Pós-doutora em Engenharia Mecânica pela Universidade Federal de Santa Catarina.

    • Ganhadora do Prêmio Jovem Cientista Forense Internacional 2020 (Internacional Young Forensic Science Scholarship).

    • Membro da Academia Brasileira de Ciências Forenses (ABCF), da Sociedade Brasileira de Ciências Forenses (SBCF) e da International Society for Optics and Photonics (SPIE)

    • Trabalhos publicados em revistas, congressos e encontros. Para detalhes: http://lattes.cnpq.br/0587239782986422.

    André Luiz de Melo

    Instituto Geral de Perícias de Santa Catarina - Lages

    https://orcid.org/0000-0002-2505-3390

    Juliane Maria Bieda Nadolny